質構儀（物性測試儀）用於稻穀籽粒壓縮特性的測定

   稻穀在儲(chu) 藏過程中受到壓縮載荷，若糧倉(cang) 中糧堆高，深處的稻穀受到的壓力很大，當壓力超過了稻穀籽粒能承受的範圍，稻穀籽粒就會(hui) 產(chan) 生形變，甚至破裂，從(cong) 而改變或破壞了它的顆粒質構，也改變了它的生理狀態和活動環境，影響了其安全儲(chu) 藏，使其更容易受微生物的侵蝕，進而影響稻穀的利用率和種子的出芽率。為(wei) 此，研究稻穀籽粒的壓縮特性是非常必要的。

   質構儀(yi) 作為(wei) 物性分析儀(yi) 器，廣泛應用於(yu) 食品、農(nong) 業(ye) 等領域樣品的質構分析與(yu) 物性測試，可用於(yu) 稻穀籽粒壓縮特性的測試。

1 儀(yi) 器測定

儀(yi) 器：Universal TA質構儀(yi) （物性分析儀(yi) ）

探頭：P/36柱形探頭

由於(yu) 稻穀籽粒自身的形狀特性，隻能進行稻穀籽粒Ｚ軸方向上的壓縮。測試條件設置如下

測試模式：壓縮

測試前速度：1.0mm/s

測試速度：0.02mm/s

測試後速度：1.0mm/s

觸發力：10g

目標模式：距離 1.5mm

測定結果：可以測定稻穀籽粒的大破壞力、大破壞能、大破壞應變等指標。